Rainer Hillenbrand und seine Kollegen haben nun ein Nahfeldmikroskop mit einer Superlinse ausgestattet, die das Nahfeld von Objekten unterhalb der Oberfläche in die Umgebung der Spitze transportiert. Die Linse selbst besteht aus einer dünnen Schicht aus Siliziumkarbid, die zwischen zwei Glasschichten eingeschlossen ist. Die Dicke der Schichtanordnung beträgt etwa 900 Nanometer.
Als Testobjekt wählten die Forscher einen Metallfilm mit nur etwa einem halben Mikrometer kleinen Löchern aus. Dann brachten sie die Linse zunächst auf diesem Film an, und ließen anschließend die Spitze ihres Nahfeldmikroskops über die Linse wandern. Zugleich wurde diese Anordnung mit Infrarotstrahlung einer Wellenlänge von zehn Mikrometern bestrahlt, und die an der Spitze gestreute Strahlung von einem Detektor aufgefangen.
Auf diese Weise konnte durch Abrasterung der flachen Linsenoberfläche ein Bild des Nahfeldes der darunterliegenden Löcher erzeugt werden ? obwohl diese fast einen Mikrometer weit von der Spitze entfernt waren. Die Spitze selbst befand sich somit weit außerhalb des Nahfelds der Löcher.
Die Forscher haben somit ein im Jahr 2000 von dem britischen Physiker John Pendry vorgeschlagenes Konzept erfolgreich demonstriert. Hillenbrand glaubt, dass diese Methode sowohl in der Zellbiologie als auch in der Mikroelektronik eingesetzt werden kann.
